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  用于对石英晶体频率片(矩形片)进行外观检测(单面检测)、自动分选和数据统计。适合于所有规格SMD及49S的晶片。 对晶片外观缺陷的判定具有良好的一致性和稳定性,消除了人工挑片标准的差异。

  用于对石英晶片(矩形片)进行外观双面检测、自动分选和数据统计。适合于所有规格的SMD及49S的晶片。对晶片外观缺陷的判定具有良好的一致性和稳定性.....

  KXR-4100是为双转角石英晶片设计的角度测量设备。欧亿平台注册采用低功率x射线w)实现角度的精确测量。可根据用户指定的转角范围进行产品定制...

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